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赛默飞-显微拉曼光谱仪

赛默飞-显微拉曼成像光谱仪.jpg

描述

功能

  • 表征和鉴别小颗粒

  • 非常适合于颗粒污染物的鉴定

  • 对透明和半透明样品进行高分辨深度剖析和次表面分析,非常适合于涂层、多层材料、薄膜、包裹体和次表面的缺陷分析

  • 有机和无机样品 — 低至 50cm-1 的宽光谱范围测量特别适合于无机物的表征,因为它们通常在低频谱带有振动峰

  • 分子形态表征 —比较典型的为碳和硅的分子骨架表征,利用拉曼光谱可以非常有效地鉴别药物和矿物的各种晶型,区分硅的结晶态和无定型态,以及表征各种碳纳米材料

  • 表面区域和横切面的表征可以借助于于 x-y 轴拉曼成像和 x-z 轴拉曼成像

  • 透过玻璃和塑料包装进行测量 — 允许直接透过证据袋、安瓿瓶和防护涂层进行测量

  • 使用光纤探针可以对样品仓无法容纳的大样品进行远程取样

  • 仪器上的 GO(执行)按钮可提供一键式操作

  • 所有数据收集、处理和生成报告步骤都可通过GO存储,因此用户在显微镜下置入样品后,只需一个按钮就可以自动生成报告,无需在计算机上进行操作

  • 支持表面增强拉曼 (SERS) 测量

  • 激光器、滤光片和光栅等智能模块都属于用户可自行更换的部件,而且还可以与其他 DXR 仪器共享

激光安全性

  • 显微镜为一级激光安全认证。 (注: 光纤附件和一些其他的附件为3B 级激光装置,需要激光防范措施和激光安全护目镜。)

  • 观察时,激光被护目镜物理阻挡在视径外,以防止眼睛直接暴露于激光。

验证

  • 备有 DQ/IQ/OQ/PQ 验证包,包括各种验证文档和自动化软件协议

  • Omnic D/S 软件符合 CFR 21 Part 11 规范

卓越的性能

  • 空间分辨率——样品的理想空间分辨率可以优于 540nm

  • 纵向分辨率——样品的理想纵向分辨率可以优于 1.7μm

  • 通过对 CCD 的单次曝光即可获取 3500-50cm-1 的光谱范围,避免接谱产生的赝谱。 采用532nm激发,扩展光谱范围可达 6,000cm-1

  • 支持多个激光器。 532nm、633nm 和 780nm

  • 针对所有激发波长的自动荧光校正功能

  • 研究级 Olympus 光学显微镜

  • 自动强度校正功能使不同仪器和不同激发波长的拉曼光谱具有可比性

  • 多点波长校准功能为全谱范围的波长提供精确的校准

  • 专利的三重光学光谱仪设计提供完美峰形并保证所有波长的高共焦

  • 通过软件控制共聚焦和高性能光谱采集模式之间的自由切换

  • 专利的宇宙射线自动扣除功能和高质量激光线滤光片确保获取无赝谱的光谱

  • 去偏振的激光激发可避免样品取向效应所带来的光谱偏差

  • 激光功率调节器能对激光功率实时监控,确保在激光器的使用寿命期间,甚至在更换激光器后激光能量的重复性

  • 针对每个激发波长优化光栅,避免多个激发波长共用一块光栅所带来的性能牺牲

  • 专利的自动准直功能确保仪器性能的日日如新

  • 专利的智能背景自动扣除功能消除了 CCD 暗电流对光谱图的影响。

推荐用途:

  • 司法鉴定 — 痕迹物证和违禁药物鉴定

  • 制药行业 — 多晶型、颗粒污染物和扩散研究

  • 艺术品修复/保存 — 鉴别和表征颜料、树脂、釉彩以及油墨

  • 考古学 — 表征角质物、贝壳、骨头和陶瓷仿制品

  • 太阳能 — 硅结晶度;光伏材料的表征

  • 聚合物 — 包裹体和凝胶缺陷、风化作用、层压材料连接层以及结晶度

  • 故障分析 — 界面颗粒和微区表征。

  • 宝石学 — 彩色宝石的快速 鉴定,区分天然和合成钻石、表征包裹体和掺杂物

  • 纳米技术 — 表征石墨烯、碳纳米管、DLC 涂层和其他纳米结构

  • 学术研究 — 在材料科学、生物学研究和许多应用研究领域特别有用


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